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期刊收录: 不限 SCI SCIE

Ieee Electron Device Letters

Ieee Electron Device Letters
期刊全称:Ieee Electron Device Letters
简称:IEEE ELECTR DEVICE L
ISSN:0741-3106
ESSN:0741-3106
研究方向:工程技术 - 工程:电子与电气
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Ieee Electron Device Letters英文简介

IEEE Electron Device Letters publishes original and significant contributions relating to the theory, modeling, design, performance and reliability of electron and ion integrated circuit devices and interconnects, involving insulators, metals, organic materials, micro-plasmas, semiconductors, quantum-effect structures, vacuum devices, and emerging materials with applications in bioelectronics, biomedical electronics, computation, communications, displays, microelectromechanics, imaging, micro-actuators, nanoelectronics, optoelectronics, photovoltaics, power ICs and micro-sensors.

Ieee Electron Device Letters中文简介

《Ieee Electron Device Letters》是一本由IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC出版商出版的专业工程技术期刊,该刊创刊于1980年,刊期Monthly,该刊已被国际权威数据库SCI、SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中,该刊分区信息为大类学科:工程技术 2区,小类学科:工程:电子与电气 2区;在JCR(Journal Citation Reports)分区等级为Q1。该刊发文范围涵盖工程:电子与电气等领域,旨在及时、准确、全面地报道国内外工程:电子与电气工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等,促进学术交流,鼓励学术创新。2021年影响因子为4.816,平均审稿速度约1.3个月。

中科院分区最新升级版(当前数据版本:2021年12月最新升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 2区

JCR分区(当前数据版本:2021-2022年最新版)

JCR分区等级 JCR所属学科 分区 影响因子
Q1 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC Q1 4.816

期刊指数

影响因子 h-index Gold OA文章占比 研究类文章占比 OA开放访问 平均审稿速度
4.816 135 2.60% 100.00% 未开放 约1.3个月

IF值(影响因子)趋势图


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